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國(guó)產(chǎn)原子力顯微鏡

型 號(hào)

更新時(shí)間2025-12-16

所屬分類科研型原子力顯微鏡

訪問(wèn)次數(shù)11

產(chǎn)品描述:國(guó)產(chǎn)原子力顯微鏡是一種強(qiáng)大的納米尺度表征工具,它通過(guò)感知探針與樣品之間的極微弱作用力來(lái)重構(gòu)表面三維形貌。其優(yōu)勢(shì)在于很高的分辨率、三維成像能力以及在接近自然條件下(尤其是在液體中)研究樣品的能力,使其成為材料科學(xué)、生命科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域的“眼睛"和“手"。?

產(chǎn)品概述

一、什么是原子力顯微鏡?
原子力顯微鏡是一種具有納米級(jí)甚至原子級(jí)分辨率的超高分辨率掃描探針顯微鏡。它的核心原理非常簡(jiǎn)單:通過(guò)一個(gè)極細(xì)的探針在樣品表面輕輕“觸摸"或掃描,來(lái)感知樣品表面的三維形貌和物理性質(zhì)。
最令人驚嘆的是,AFM不需要像電子顯微鏡那樣必須在真空環(huán)境下工作,它可以在大氣環(huán)境、液體環(huán)境、甚至真空中操作。這使得它能夠觀測(cè)生物大分子(如蛋白質(zhì)、DNA)、活細(xì)胞等無(wú)法在電子顯微鏡下直接觀察的樣品,這是它的一項(xiàng)巨大優(yōu)勢(shì)。
二、工作原理
AFM的工作原理類似于古老的唱片機(jī)唱針讀取唱片溝槽,但精度要高無(wú)數(shù)個(gè)數(shù)量級(jí)。其核心組成部分包括:
1、微懸臂梁: 一個(gè)極富彈性的微小懸臂。
2、探針: 位于懸臂梁末端的一個(gè)極其尖銳的針尖,曲率半徑可達(dá)納米級(jí)別。
3、激光發(fā)射與位置檢測(cè)系統(tǒng): 一束激光打在懸臂梁的背面,并反射到一個(gè)四象限的光電探測(cè)器上。
4、壓電掃描器: 一種能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)精確定位的陶瓷材料,可以控制探針或樣品在X, Y, Z三個(gè)方向上進(jìn)行精確移動(dòng)。
工作過(guò)程(以接觸模式為例):
1、接觸: 將尖銳的探針逐步逼近樣品表面,直到它與樣品表面的原子產(chǎn)生微弱的相互作用力(主要是范德華力)。
2、掃描: 壓電掃描器帶動(dòng)探針在樣品表面進(jìn)行逐行掃描(柵掃描)。
3、感知形變: 當(dāng)探針掃描到表面有起伏的地方時(shí),針尖與樣品之間的作用力會(huì)發(fā)生變化,導(dǎo)致微懸臂梁發(fā)生彎曲(形變)。
4、檢測(cè)形變: 懸臂梁的彎曲會(huì)改變反射激光束的方向,從而在光電探測(cè)器上光斑的位置發(fā)生變化。這個(gè)位置變化被精確地記錄下來(lái)。
5、反饋循環(huán): 系統(tǒng)通過(guò)一個(gè)反饋回路,實(shí)時(shí)調(diào)整壓電掃描器在Z方向的高度,以保持懸臂梁的形變(即探針與樣品之間的作用力)恒定。
6、成像: 計(jì)算機(jī)記錄下掃描器在每一點(diǎn)(X, Y坐標(biāo))上為保持力恒定所需要的Z方向高度變化值。將這些數(shù)據(jù)組合起來(lái),就得到了樣品表面的三維形貌圖。
三、主要工作模式
AFM有多種工作模式,以適應(yīng)不同的樣品和測(cè)量需求,主要分為三類:
1. 接觸模式
原理: 探針與樣品表面直接接觸(斥力模式),懸臂梁與樣品表面的距離小于零點(diǎn)幾個(gè)納米。
優(yōu)點(diǎn): 分辨率高,掃描速度快。
缺點(diǎn): 橫向力可能對(duì)柔軟樣品(如生物樣品)造成損傷或移動(dòng)。
2. 輕敲模式
原理: 使微懸臂梁在其共振頻率附近發(fā)生振蕩,探針僅在每個(gè)振蕩周期的底部短暫地“輕敲"樣品表面。通過(guò)檢測(cè)振蕩振幅的變化來(lái)反饋表面形貌。
優(yōu)點(diǎn): 極大地減少了橫向力,非常適合觀察柔軟、易碎或粘附性強(qiáng)的樣品(如生物、高分子材料),是應(yīng)用廣泛的模式之一。
缺點(diǎn): 掃描速度略慢于接觸模式。
3. 非接觸模式
原理: 探針在樣品表面上方振動(dòng)(距離幾到幾十納米),通過(guò)檢測(cè)樣品與針尖之間的長(zhǎng)程作用力(如范德華力、靜電力)的變化來(lái)成像。
優(yōu)點(diǎn): 對(duì)樣品幾乎零損傷。
缺點(diǎn): 分辨率較低,通常需要在真空環(huán)境中操作以排除空氣阻尼的干擾。
四、主要應(yīng)用領(lǐng)域
AFM的強(qiáng)大功能使其在眾多領(lǐng)域中應(yīng)用:
1、材料科學(xué):
觀察納米材料(如石墨烯、碳納米管)的形貌和結(jié)構(gòu)。
研究金屬、半導(dǎo)體、陶瓷等材料的表面粗糙度、晶粒邊界、缺陷。
分析高分子材料的相分離、晶體結(jié)構(gòu)等。
2、生命科學(xué)與生物學(xué):
成像: 直接觀察DNA、RNA、蛋白質(zhì)等生物大分子的結(jié)構(gòu),甚至能在液體環(huán)境中觀察生物過(guò)程的動(dòng)態(tài)變化。
力學(xué)性質(zhì)測(cè)量: 通過(guò)力曲線測(cè)量,研究活細(xì)胞的彈性(剛度)、細(xì)菌的粘附力、蛋白質(zhì)間的相互作用力等。
3、納米技術(shù):
納米操縱: 移動(dòng)單個(gè)原子或分子,構(gòu)建納米結(jié)構(gòu)。
納米加工: 利用AFM針尖對(duì)材料表面進(jìn)行刻蝕、氧化,實(shí)現(xiàn)“直寫(xiě)"式加工。
4、半導(dǎo)體工業(yè):
測(cè)量集成電路的線寬、深度,進(jìn)行失效分析。
檢測(cè)半導(dǎo)體器件的表面質(zhì)量。
五、原子力顯微鏡結(jié)構(gòu)特性:
◆ 激光檢測(cè)頭和樣品掃描臺(tái)集成一體,穩(wěn)定可靠;
◆ 精密激光及探針定位裝置,更換探針及調(diào)節(jié)光斑簡(jiǎn)單方便;
◆ 單軸驅(qū)動(dòng)樣品自動(dòng)垂直接近探針,準(zhǔn)確定位掃描區(qū)域,使針尖垂直于樣品掃描;
◆ 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針?lè)绞剑Wo(hù)探針及樣品;
◆ 高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,可根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇;
◆ 10X復(fù)消色差物鏡光學(xué)定位,無(wú)需調(diào)焦,實(shí)時(shí)觀測(cè)。
六、原子力顯微鏡技術(shù)參數(shù):
基本工作模式接觸模式、輕敲模式、F-Z力曲線測(cè)量、RMS-Z曲線測(cè)量
選配工作模式摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力和靜電力
樣品尺寸Φ≤90mm,H≤20mm
掃描范圍XY向50um,Z向5um(可選配XY向110um,Z向10um)
掃描分辨率XY向0.2nm,Z向0.05nm
樣品移動(dòng)范圍0~20mm
光學(xué)放大倍數(shù)10X,光學(xué)分辨率1um(可選配20X,光學(xué)分辨率0.8um)
掃描速率0.6Hz~4.34Hz,掃描角度0~360°
掃描控制XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A
數(shù)據(jù)采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
反饋方式DSP數(shù)字反饋
反饋采樣速率64.0KHz
通信接口USB2.0/3.0
運(yùn)行環(huán)境WindowsXP/7/8/10操作系統(tǒng)
國(guó)產(chǎn)原子力顯微鏡


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